- 涂層測(cè)厚儀
- 印刷頻閃儀
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- 涂料檢測(cè)儀器
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- 力學(xué)測(cè)試儀器
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- 塵埃粒子計(jì)數(shù)器
- 無(wú)損檢測(cè)儀器
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- 風(fēng)速儀
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- 在線(xiàn)紅外測(cè)溫儀
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- 高斯計(jì)
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀采用分體式探頭,主要用于測(cè)量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)以及非磁性金屬上*緣層厚度.
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量基體材質(zhì)不同主要有以下三種型號(hào)
LE-370:主要用于磁性金屬上非磁性涂鍍層厚度測(cè)試
LH-370:主要用于非磁性金屬上*緣層厚度測(cè)試
LZ-370:雙功能儀器,綜合了LE-370與LH-370兩款儀器的功能,主要用于磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上*緣層厚度測(cè)試.
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀主要特點(diǎn)
支持多國(guó)語(yǔ)言,如中、英、日、韓.
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
儀器有自動(dòng)背光功能,方便晚上使用
可針對(duì)不同產(chǎn)品保留測(cè)量通道,數(shù)據(jù)可存儲(chǔ),可輸出*電腦
可分批統(tǒng)計(jì)*大值、*小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
格型號(hào) |
LE-370 |
LH-370 |
LZ-370 |
測(cè)定對(duì)象 |
磁性金屬上非磁性涂鍍層 |
非磁性金屬上*緣層 |
磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上*緣層 |
測(cè)定范圍 |
0~3000um |
0~1500um |
0~3000um |
測(cè)定精度 |
<50um±1um , >50um±2% |
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分 辨 率 |
<100um 0.1um , >100um 1um |
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計(jì)量單位 |
公制、英制可自由切換 |
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顯示方式 |
LCD液晶屏 |
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操作面板 |
密封防水多功能數(shù)字鍵盤(pán) |
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隨機(jī)附件 |
基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說(shuō)明書(shū) |
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電 源 |
DV6V 5#堿性電池×4個(gè) |
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體 積 |
75mm(W)×145(mmD)×21mm(H) |
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重 量 |
500g |